《測定・計測総合技術展 in TOKYOに出展しました》

 

ご来場いただきありがとうございました

 

〈上記画像をクリックすると展示会案内が表示されます（PDF 1MB）〉

 

弊社出展テーマ
検査の省力化、効率化、測定の困りごと　ご回答から提案まで

【㈱第一測範製作所案内状 および 技術相談会申込フォーム】

〈上記画像をクリックすると、弊社案内状 および 技術相談会申込フォームが表示されます(PDF 1MB)〉

 

【技術相談会開催】

展示会会期中、弊社ブースにおいて『技術相談会』を開催しております。

測定に関する困りごと、普段から疑問に思っていることなど、お気軽にご相談下さい。詳細は、

上記弊社案内状の2ページ目をご覧ください。

 

【出展製品】

◆タップ穴自動検査装置 Bee-1

ねじプラグゲージによるねめじ検査の自動化、省力化をご提案

〈上記画像をクリックすると、『Bee-1紹介ページ』へ移動します〉

 

◆高性能縦型万能測長機V7-400

汎用性と高信頼性を兼ね備えた測定をご提案

〈上記画像をクリックすると、『縦型測長機紹介ページ』へ移動します〉

 

◆空気/電気マイクロメータ デジタル表示ユニット Smp

SDGsを見据えた電気マイクロへの切り替えと操作容易性をご提案

〈上記画像をクリックすると、『空気/電気マイクロメータ　デジタル表示ユニット Smpページ』へ移動します〉

 

◆内径自動測定機

エアーマイクロの自動化、省力化をご提案

〈上記画像をクリックすると、『内径自動測定機紹介ページ』へ移動します〉